Dienstleistungsangebot
- Analyse-Dienstleistungen
- Angewandte Forschung und Entwicklung
- Training und Beratung
- Seminare/Inhouse Fortbildung
- Erstellung von Gutachten
Schwerpunktthemen
- Rastersondenmikroskopie (SPM)
- Rasterkapazitätsmikroskopie/-spekroskopie (SCM/SSCS)
- Kelvin-Probe-Force Mikroskopie (KPFM)
- Scanning Thermal Mikroskopie (SThM)
- Rasterelektronenmikroskopie (SEM)
- Halbleiter-Messtechnik
- Waverlevel-Zuverlässigkeitsanalytik
- Waverlevel-Stress- und Messtechnik
- Lock-In-Verstärkertechnik
- Dünnschicht Charakterisierung
- Ultraschall- Dünndrahtbonden
- Mikro- und Nanoelektronik
- Optoelektronik
- Oberflächenanalytik
Projektbeispiele
- Kelvin-Probe-Force Mikroskopie an aktiven optoelektronischen Strukturen
- 2D-Dotierstoffmapping mit Rasterkapazitätsmikroskopie
- Lokalisierung von pn-Übergängen mit Rasterkapazitätsspektroskopie
- 2D-Mapping dünner Dielektrika mittels Tunnelstromanalytik (Kontaktmodus)
- Waferlevel Dünnoxid-Charakterisierung
- Waferlevel Hot-Carrier-Charakterisierung
- Rastersondenbasierte Nano-Scratch und Weartests an DLC-Schichten
http://www.stw.de/su/1310
Rechtliche Hinweise zu diesem Unternehmens-Profil:
Steinbeis GmbH & Co. KG für Technologietransfer | Adornostraße 8 | 70599 Stuttgart | Fon: +49 711 1839-5
Registergericht Stuttgart HRA 12 480 | Komplementär: Steinbeis Verwaltungs-GmbH (Registergericht Stuttgart HRB 18 715) | Ein Unternehmen im Steinbeis-Verbund
Geschäftsführung: Prof. Dr. Michael Auer (Vorsitz), Dipl.-Kfm. Manfred Mattulat | www.steinbeis.de | stw@steinbeis.de