Steinbeis-Transferzentrum Mikro-, Nano- und Zuverlässigkeitsanalytik

Dienstleistungsangebot

  • Analyse-Dienstleistungen
  • Angewandte Forschung und Entwicklung
  • Training und Beratung
  • Seminare/Inhouse Fortbildung
  • Erstellung von Gutachten

Schwerpunktthemen

  • Rastersondenmikroskopie (SPM)
  • Rasterkapazitätsmikroskopie/-spekroskopie (SCM/SSCS)
  • Kelvin-Probe-Force Mikroskopie (KPFM)
  • Scanning Thermal Mikroskopie (SThM)
  • Rasterelektronenmikroskopie (SEM)
  • Halbleiter-Messtechnik
  • Waverlevel-Zuverlässigkeitsanalytik
  • Waverlevel-Stress- und Messtechnik
  • Lock-In-Verstärkertechnik
  • Dünnschicht Charakterisierung
  • Ultraschall- Dünndrahtbonden
  • Mikro- und Nanoelektronik
  • Optoelektronik
  • Oberflächenanalytik

Projektbeispiele

  • Kelvin-Probe-Force Mikroskopie an aktiven optoelektronischen Strukturen 
  • 2D-Dotierstoffmapping mit Rasterkapazitätsmikroskopie
  • Lokalisierung von pn-Übergängen mit Rasterkapazitätsspektroskopie
  • 2D-Mapping dünner Dielektrika mittels  Tunnelstromanalytik (Kontaktmodus)
  • Waferlevel Dünnoxid-Charakterisierung
  • Waferlevel Hot-Carrier-Charakterisierung
  • Rastersondenbasierte Nano-Scratch und Weartests an DLC-Schichten
QR code
http://www.stw.de/su/1310

Kontaktdaten

Adalbert-Stifter-Str. 43, D-94469 Deggendorf
Telefon: +49 991 2705513
E-Mail: SU1310@stw.de
Transferunternehmer: Prof. Dr.-Ing. Günther Benstetter
(Stand: 08.01.2024)

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